YG211S/YG212S脈沖式線圈匝間測試儀原理說(shuo)明

1.4.1. YG212S脈沖式線圈匝間測試儀層間(jian)短(duan)路測試原理

層間短(duan)路(lu)測試能夠(gou)在不損壞被(bei)(bei)測件的(de)條件下測試其電(dian)氣性(xing)能，首(shou)先條件是能在短(duan)暫的(de)瞬間判(pan)別(bie)線圈(quan)(quan)的(de)品質。測試時與標(biao)準線圈(quan)(quan)測量時同樣(yang)的(de)脈(mo)沖通過電(dian)容器(qi)施(shi)加于被(bei)(bei)測試線圈(quan)(quan)，由于線圈(quan)(quan)電(dian)感量和Q值(zhi)的(de)存在，將(jiang)響應一個(ge)對應于該(gai)放(fang)(fang)電(dian)脈沖的(de)電(dian)壓衰減波形(xing)，比(bi)較該(gai)衰減波形(xing)的(de)某(mou)些(xie)特征，可以檢(jian)測線圈(quan)匝(za)間(jian)和(he)層(ceng)(ceng)間(jian)短路及圈(quan)數(shu)和(he)磁性材(cai)料的(de)差異，也可以根據出現(xian)的(de)電(dian)暈(yun)或層(ceng)(ceng)間(jian)放(fang)(fang)電(dian)來判斷絕緣不良。

圖1.4.1-1 線圈(quan)層間短路測試原理簡圖

圖1.4.1-2 中的(de)(de)自(zi)激振蕩衰減波(bo)形直接(jie)和線圈的(de)(de)電感(gan)值L及(ji)品質(zhi)因素Q值有著密(mi)切的(de)關系，而(er)L值及Q值又和線圈(quan)的(de)(de)圈(quan)數、制造工藝、是否空心線圈(quan)并且(qie)還與鐵芯材料特性又有著(zhu)不可分割的(de)(de)牽連，施加電壓(ya)(ya)又是高壓(ya)(ya)脈沖電壓(ya)(ya)，因此(ci)，當(dang)線圈(quan)有短路、匝間(jian)局部短路或由于絕緣損(sun)傷引起的(de)(de)層間(jian)或匝間(jian)放電現象(xiang)自然很容易(yi)被發現。

圖1.4.1-2 線圈衰(shuai)減振蕩波(bo)形分析(xi)

1.4.2 YG212S脈沖式線圈匝間測試儀儀(yi)器原理(li)框(kuang)圖(tu)

圖1.3.2 工作原理框圖

1.4.3 YG212S脈沖式線圈匝間測試儀儀(yi)器工作原(yuan)理

YG211S/YG212S系列脈沖(chong)式線圈匝間測試(shi)儀(yi)以MCU中央信息處理系統為(wei)核心，由它控(kong)制高壓脈沖發生器對線(xian)圈施加(jia)一次極短(duan)時間的高壓脈沖，線圈在(zai)脈沖(chong)作用下產生自由衰減振蕩,其瞬態波形的模擬信號經高(gao)速A/D轉換器轉換成數字信號后反饋(kui)至MCU信息處理系統進行時間、電暈量、面積、相(xiang)位等參數(shu)的運算(suan)，處(chu)理結果保存在MCU信息處理系統的電子存儲器中，并用直觀易懂的文字、數據及圖形顯示在240×320點陣液晶模塊(kuai)LCM上，從而保證(zheng)了波(bo)形重(zhong)現(xian)的(de)真實性。并且根據用戶設定(ding)的條件(jian),對(dui)合格或不合格者進行報警處理。