絕緣子老化判斷及測量方法

絕緣子老化(hua)的判斷(duan)原則(ze)

絕緣子絕緣電阻小(xiao)于(yu)300MΩ，大(da)于(yu)240MΩ可判定為低(di)值絕緣子。

絕(jue)緣子的絕(jue)緣電阻值(zhi)小于240MΩ，可判定(ding)為零值(zhi)絕(jue)緣子。

二(er)、絕(jue)緣子劣化的原因

溫(wen)度的(de)影響，溫(wen)度對絕(jue)緣電阻的(de)影響很(hen)大，絕(jue)緣電阻隨溫(wen)度升高而降低。

濕度(du)的影響，濕度(du)對表面漏電流的影響較(jiao)大，原因是絕緣表面吸潮形成(cheng)水膜，會顯(xian)著降(jiang)低絕緣電阻(zu)

機械過載引起的劣化

吸濕性變差

內外應力重疊惡化

熱膨脹引起的劣化

鋼帽澆(jiao)注水泥飽和(he)膨脹性變差(cha)

鋼帽澆(jiao)注水泥(ni)凍脹(zhang)劣化

鋼帽、鋼腳(jiao)電腐蝕(shi)惡化

絕緣子過(guo)電(dian)壓引起的(de)劣化

絕緣(yuan)子內(nei)部缺陷引起的(de)劣化

三、測量方法

對于單個元件的(de)絕(jue)緣(yuan)(yuan)體，絕(jue)緣(yuan)(yuan)電阻只(zhi)能(neng)在(zai)斷電時測量。有關規定規定應使用2500V及(ji)以上的(de)兆歐表。

對于多元件組(zu)合(he)絕(jue)(jue)緣(yuan)子(zi)，可在停電(dian)(dian)(dian)(dian)或帶電(dian)(dian)(dian)(dian)時測量(liang)絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)。其(qi)方法(fa)是用高電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)接(jie)在帶電(dian)(dian)(dian)(dian)絕(jue)(jue)緣(yuan)體上(shang)，制作(zuo)絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)測試(shi)儀測量(liang)地電(dian)(dian)(dian)(dian)位的(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，用測得的(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)減去高電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值(zhi)，即(ji)為絕(jue)(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值(zhi)。